日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備 參考價(jià)：100000
日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
CP截面樣品制備裝置 參考價(jià)：面議
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將...
IB-19530CP截面樣品制備裝置 參考價(jià)：面議
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
離子切片儀 參考價(jià)：面議
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡...
低溫冷凍離子切片儀 參考價(jià)：200000
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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